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Registers refreshed 2026-10-25.See refresh dates
Germany

TASCON

Mendelstraße 17, 48149, Münster, Germany

DAKKS D-PL-17283-01-01ISO/IEC 17025Register refreshed 2026-10-23

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Accredited standards
2
DAKKS certificate
1
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1
DAKKS accredited scope

What this lab is accredited for

Our reading of the DAKKS scope: each standard once, with its official name where we have checked it.

Only this lab. Searches the 2 standard numbers and the 2 official names we hold. When no standard matches, it searches the method text of every scope line.

ISO 4287Geometrical Product Specifications (GPS) - Surface texture: Profile method - Terms, definitions and surface texture parameters
ISO 25178-2Geometrical product specifications (GPS) - Surface texture: Areal - Part 2: Terms, definitions and surface texture parameters

Read from the scope as published by DAKKS. Register refreshed 2026-10-23.

Scope as published by DAKKS

4 lines
DAKKS

ISO/IEC 17025

Active

D-PL-17283-01-01

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Accredited scope, certificate D-PL-17283-01-01

LineMethodMatrixRange
1DIN EN ISO/IEC 17025:2018--
2-Festkörpern, Querschnittsflächen, Pulvern, Partikeln, Fasern, Flüssigkeiten und Lacken
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Anlage zur Akkreditierungsurkunde D-PL-17283-01-01 Gültig ab: 22.09.2025 Ausstellungsdatum: 22.09.2025 Seite 2 von 4 Prüfungen in den Bereichen: physikalisch-chemische Analyse der chemischen, elementaren und molekularen Zusammensetzung von Oberflächen, Grenzflächen, oberflächennahen Schichten, komplexen Schichtsystemen, Spuren- verunreinigungen und oberflächennahem Volumenmaterial einschließlich der Lateral- und Tiefen- verteilung an Festkörpern, Querschnittsflächen, Pulvern, Partikeln, Fasern, Flüssigkeiten und Lacken mittels Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie (ToF-SIMS) und Photoelektronenspektroskopie (XPS/ESCA); Bestimmung der Rauigkeit von Oberflächen mittels optischer Profilometrie Flexibler Akkreditierungsbereich: Dem Prüflaboratorium ist innerhalb der gekennzeichneten Prüfbereiche, ohne dass es einer vorherigen Information und Zustimmung der DAkkS bedarf, [Flex A] die Anwendung der hier aufgeführten genorm ten oder ihnen gleichzusetzenden Prüfverfahren mit unterschiedlichen Ausgabestände n gestattet. [Flex C] die Modifizierung sowie Weiter- und Neuent wicklung von Prüfverfahren gestattet . Das Prüflaboratorium verfügt über eine aktuelle Liste aller Prüfverfahren im flexiblen Akkreditierungsbereich. Die Liste ist öffentlich verfügbar auf der Webpräsenz des Prüflaboratoriums. Die Prüfverfahren sind mit den nachfolgend aufgeführten Symbolen der Standorte gekennzeichnet, an denen sie durchgeführt werden: MÜ = Münster WI = Wiesbaden
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3-Festkörpern, Quers chnittsflächen, Pulvern, Partikeln, Fasern, Flüssigkeiten und Lacken
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Anlage zur Akkreditierungsurkunde D-PL-17283-01-01 Gültig ab: 22.09.2025 Ausstellungsdatum: 22.09.2025 Seite 3 von 4 1 Bestimmung der chemischen, elementaren und moleku laren Zusammensetzung von Oberflächen, Grenzflächen, oberflächennahen Schicht en, komplexen Schichtsystemen, Spuren-verunreinigungen und oberflächennahem Volume nmaterial einschließlich der Lateral- und Tiefenverteilung an Festkörpern, Quers chnittsflächen, Pulvern, Partikeln, Fasern, Flüssigkeiten und Lacken mittels Flugzeit-S ekundärionenmassenspektrometrie (ToF-SIMS) und Photoelektronenspektroskopie (XPS/ESCA) [Flex C] 1.1 Qualitative Analyse VA -OG -AM -ToF -SIMS - Spektrenakquisition / Rev. 3 2017-02 Chemische Charakterisierung von Oberflächen mit der Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie (ToF-SIMS): Spektrometrie MÜ VA -OG -AM -ToF -SIMS - Imageakquisition / Rev. 3 2017-02 Chemische Charakterisierung von Oberflächen mit der Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie (ToF-SIMS): Imaging MÜ VA -OG -AM -ToF -SIMS - Tiefenprofilakquisition / Rev. 2 2017-02 Chemische Charakterisierung von Oberflächen mit der Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie (ToF-SIMS): Tiefenprofilierung MÜ 1.2 Quantitative Analyse VA -OG -AB -ToF -SIMS - Quantifizierung-von-B-in-Si / Rev. 2 2017-02 Quantitativer Nachweis von Bor in Silizium (ToF -SIMS) MÜ VA -OG -AB -XPS -Analyse - Spektroskopie / Rev. 5 2022-03 XPS - / ESCA - Analyse, Datenakquisition und - Auswertungen: Spektroskopie MÜ, WI VA -OG -AB -XPS -Analyse -Imaging / Rev. 3 2022-03 XPS - / ESCA - Analyse, Datenakquisition und - Auswertungen: Imaging MÜ, WI VA -OG -AB -XPS -Analyse - Tiefenprofilierung / Rev. 3 2022-03 XPS - / ESCA - Analyse, Datenakquisition und - Auswertungen: Tiefenprofilierung MÜ, WI
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4DIN EN ISO 4287; DIN EN ISO 25178-2--

Ranges are reproduced from the accredited scope document as published, and only where we found that range printed in the document for the line. Otherwise the cell reads “See scope document”. An absent range means the register did not state one. Line numbers are ours, for cross-reference; they follow the order of the scope document.

Location

Mendelstraße 17, Münster, 48149, DE

51.97034, 7.58953

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