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DAKKS D-PL-21424-01-00DAKKS D-PL-21424-01-01ISO/IEC 17025Register refreshed 2026-11-06

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DAKKS certificate D-PL-21424-01-00 · 2 lines

LineMethodMatrixRange
1DIN EN ISO/IEC 17025:2018; DIN EN ISO 9001--
2-elektronische Baugruppe
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Anlage zur Akkreditierungsurkunde D-PL-21424-01-00 Gültig ab: 18.03.2022 Ausstellungsdatum: 18.03.2022 Seite 2 von 2 Norm / Ausgabedatum Hausverfahren /Version Titel der Norm oder des Hausverfahrens1 (ggf. Abweichungen / Modifizierungen von Norm- verfahren angeben) Prüfgegenstand / Inspektions- gegenstand AW TW-06-02_V1.1 vom 27.07.2021 Debugging (Beschreibung der Programm Korrekturen bei Messabweichungen und deren Dokumentierung) Überprüfung der programmierten Prüfwerte mit Prüfling. Anpassen der Verfahrwege, der Nadelpositionierung und Korrektur des Prüfprogrammes mit erneuter Überprüfung der technischen Vorgaben inkl. Dokumentierung der Programmänderungen/-Anpassungen Justage des speziellen Prüfprogrammes für jede zu prüfende elektronische Baugruppe mit erstem Prüfling AW TW-06-04_V1.3 vom 16.12.2021 Flying Probe Prüfung (Beschreibung des Prüfablaufes und Dokumentierung der gemessenen Fehler pro Prüfling (elektronische Baugruppe) als Grundlage für die Erstellung des Prüfberichtes (Test Report) Zu prüfende elektronische Baugruppe Verwendete Abkürzungen: AW TW Hausverfahren der KBS 1 Für Prüfverfahren: Im Titel des Hausverfahrens sind Methode , Matrix und Analyt zu nennen
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DAKKS certificate D-PL-21424-01-01 · 2 lines

LineMethodMatrixRange
1DIN EN ISO/IEC 17025:2018--
2AW TW -06 -02_V1.2 vom 09.03.2026; AW TW-06-04_V1.5 vom 20.02.2026elektronische Baugruppe-

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